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QVWLI606白光干涉复合型高精度3D测量影像仪

简要描述:QVWLI606白光干涉复合型高精度3D测量影像仪,三丰 HuickViseonWli带白光干涉复合型高精度3D测量影像仪,可根据WLI光学系统获取的3D数据进行表面形状分析/三维粗糙度分析。还可根据3D数据进行指定高度的尺寸测量和截面形状测量。

  • 产品型号:
  • 厂商性质:代理商
  • 更新时间:2025-04-28
  • 访  问  量:64

详细介绍

QVWLI606白光干涉复合型高精度3D测量影像仪,三丰 HuickViseonWli带白光干涉复合型高精度3D测量影像仪,可根据WLI光学系统获取的3D数据进行表面形状分析/三维粗糙度分析。还可根据3D数据进行指定高度的尺寸测量和截面形状测量。


QVWLI606白光干涉复合型高精度3D测量影像仪,三丰 HuickViseonWli带白光干涉复合型高精度3D测量影像仪,可根据WLI光学系统获取的3D数据进行表面形状分析/三维粗糙度分析。还可根据3D数据进行指定高度的尺寸测量和截面形状测量。

产品特点与优势
HYPER QV WLI配备白光干涉仪的复合型高精度3D测量系统。



可根据WLI光学系统获取的3D数据进行表面形状分析/三维粗糙度分析。还可根据3D数据进行指定高度的尺寸测量和截面形状测量。

产品阵容
型号
                                        测量范围:
                   X轴最大(mm)     Y轴最大(mm)         Z轴最大(mm)
Hyper QVWLI 302     300                200                190
Hyper QVWLI 404     400                400                240
Hyper QVWLI 606     600                650                220



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