QVWLI606白光干涉复合型高精度3D测量影像仪

简要描述：QVWLI606白光干涉复合型高精度3D测量影像仪,三丰 HuickViseonWli带白光干涉复合型高精度3D测量影像仪,可根据WLI光学系统获取的3D数据进行表面形状分析/三维粗糙度分析。还可根据3D数据进行指定高度的尺寸测量和截面形状测量。

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详细介绍

QVWLI606白光干涉复合型高精度3D测量影像仪,三丰 HuickViseonWli带白光干涉复合型高精度3D测量影像仪,可根据WLI光学系统获取的3D数据进行表面形状分析/三维粗糙度分析。还可根据3D数据进行指定高度的尺寸测量和截面形状测量。

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产品特点与优势

HYPER QV WLI配备白光干涉仪的复合型高精度3D测量系统。

可根据WLI光学系统获取的3D数据进行表面形状分析/三维粗糙度分析。还可根据3D数据进行指定高度的尺寸测量和截面形状测量。

产品阵容

型号

测量范围：

X轴最大（mm） Y轴最大（mm） Z轴最大（mm）

Hyper QVWLI 302 300 200 190

Hyper QVWLI 404 400 400 240

Hyper QVWLI 606 600 650 220

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